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      基于LVDS電路的預(yù)加重測(cè)試

      冉翠翠; 張磊; 馬錫春; 何立 中國(guó)電子科技集團(tuán)第五十八研究所; 江蘇無(wú)錫214072

      關(guān)鍵詞:預(yù)加重 lvds電路 ate測(cè)試 

      摘要:在高速LVDS集成電路的測(cè)試中,由于長(zhǎng)距離、高速率下會(huì)帶來(lái)能量損失,這種傳輸損耗會(huì)使信號(hào)的高頻分量比低頻分量損耗更大,而導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)能力不足等問(wèn)題,故在集成電路設(shè)計(jì)中增加預(yù)加重,來(lái)補(bǔ)償傳輸損耗。該文結(jié)合具有預(yù)加重功能的MAX3845電路,對(duì)可置位預(yù)加重管腳設(shè)置三種不同狀態(tài),通過(guò)ATE動(dòng)態(tài)編程,結(jié)合預(yù)加重計(jì)算公式,計(jì)算預(yù)加重dB指數(shù),驗(yàn)證電路預(yù)加重模塊設(shè)計(jì)質(zhì)量,進(jìn)一步總結(jié)測(cè)試方法和結(jié)果。

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