基于SIFT算法的射線底片拼接技術(shù)研究
關(guān)鍵詞：無損檢測 射線檢測 sift算法 射線底片偽造 圖像拼接
摘要：由于射線檢測技術(shù)自身技術(shù)特點(diǎn)和底片長度的限制,同一焊縫的射線檢測信息通常需要多張相互搭接的底片方可完整顯示,這不僅降低了檢測結(jié)果的直觀性,還存在底片被偽造的隱患。目前,監(jiān)督檢驗(yàn)人員對射線底片的人工辨識(shí)是防止底片偽造的主要手段,但同一工程中底片數(shù)量較多,勢必造成人工辨識(shí)的效率和準(zhǔn)確性較低。針對以上問題,采用SIFT算法對射線底片搭接區(qū)域特征的辨識(shí)與拼接技術(shù)展開研究,對含缺陷與不含缺陷的模擬試塊射線底片進(jìn)行實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明:SIFT算法能夠有效匹配射線底片搭接區(qū)域的相似特征,并實(shí)現(xiàn)底片的完整無縫拼接,拼接準(zhǔn)確率100%,此外,基于搭接區(qū)域特征和拼接結(jié)果實(shí)現(xiàn)底片偽造的快速辨識(shí)具有可行性。
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