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掃描探針顯微鏡下微納結(jié)構(gòu)深度測量的校準(zhǔn)方法
關(guān)鍵詞：計量學(xué) 深度測量 微納結(jié)構(gòu) 掃描探針顯微鏡
摘要：掃描探針顯微鏡(SPM)是微納結(jié)構(gòu)三維測量中的一項重要技術(shù)。然而,在測量過程中臺階或溝槽樣品的邊緣附近會出現(xiàn)不準(zhǔn)確的輪廓,這就造成了深度測量的精度損失。為了避免深度測量的精度損失,分別建立了機械探針和光學(xué)探針的兩個分析模型,描述了不準(zhǔn)確輪廓、樣品深度和探針形狀之間的耦合關(guān)系;在此基礎(chǔ)上,提出了一種具有良好精度的深度測量標(biāo)定方法。與現(xiàn)有的國際深度測量標(biāo)準(zhǔn)(W/3規(guī)則)進(jìn)行比較,該方法提供了一個明確的邊界來確定測量結(jié)果是否有效;此外,它還可以指導(dǎo)用戶在執(zhí)行測量之前選擇適當(dāng)?shù)奶结槨?/p>
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