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      真空溫變環(huán)境下大功率測試系統(tǒng)的功率標(biāo)校研究

      郭魯川; 雙龍龍; 李硯平; 王新波; 王海林; 彭璐 中國空間技術(shù)研究院西安分院; 西安710000

      關(guān)鍵詞:大功率 真空溫變 功率標(biāo)校 

      摘要:真空環(huán)境下的大功率試驗驗證對空間大功率微波器件的安全穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。文章針對大功率試驗中的功率標(biāo)校問題,從真空罐外的常壓鏈路和真空罐內(nèi)的真空鏈路兩部分,分別分析了大功率熱效應(yīng)和溫度變化對功率檢測標(biāo)校值的影響,并以2GHz同軸系統(tǒng)為例進(jìn)行了試驗研究。研究表明:常壓鏈路加載大功率信號30分鐘內(nèi),其標(biāo)校值偏差為0.12dB~0.15dB;在-40℃~110℃溫度范圍內(nèi),真空鏈路標(biāo)校值偏差為0.13dB。這兩部分偏差會導(dǎo)致微波器件的功率加載不充分。文章得出的結(jié)論將為真空溫變環(huán)境下的大功率試驗提供重要參考。

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