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國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE J-STSP

中科院分區(qū)：1區(qū)

出版社：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

JCR分區(qū)：Q1

創(chuàng)刊時(shí)間：2007

影響因子：8.7

是否預(yù)警：否

CiteScore：19

國(guó)際簡(jiǎn)稱：FRONT ENERGY

中科院分區(qū)：4區(qū)

出版社：Higher Education Press

JCR分區(qū)：Q3

創(chuàng)刊時(shí)間：2007

影響因子：3.1

是否預(yù)警：否

CiteScore：5.9

國(guó)際簡(jiǎn)稱：INT J RF MICROW C E

中科院分區(qū)：4區(qū)

出版社：John Wiley and Sons Inc.

JCR分區(qū)：Q4

創(chuàng)刊時(shí)間：1998

影響因子：0.9

是否預(yù)警：否

CiteScore：4

國(guó)際簡(jiǎn)稱：FLOW MEAS INSTRUM

中科院分區(qū)：3區(qū)

出版社：Elsevier BV

JCR分區(qū)：Q2

創(chuàng)刊時(shí)間：1989

影響因子：2.3

是否預(yù)警：否

CiteScore：4.3

國(guó)際簡(jiǎn)稱：NAT HAZARDS REV

中科院分區(qū)：3區(qū)

出版社：American Society of Civil Engineers (ASCE)

JCR分區(qū)：Q3

創(chuàng)刊時(shí)間：2000

影響因子：1.8

是否預(yù)警：否

CiteScore：4.9

國(guó)際簡(jiǎn)稱：INT J NUMER METH FL

中科院分區(qū)：4區(qū)

出版社：John Wiley and Sons Ltd

JCR分區(qū)：Q2

創(chuàng)刊時(shí)間：1981

影響因子：1.7

是否預(yù)警：否

CiteScore：3.7

國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE T ENERGY CONVER

中科院分區(qū)：2區(qū)

出版社：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

JCR分區(qū)：Q1

創(chuàng)刊時(shí)間：1986

影響因子：5

是否預(yù)警：否

CiteScore：11.1

國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE T NUCL SCI

中科院分區(qū)：3區(qū)

出版社：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

JCR分區(qū)：Q1

創(chuàng)刊時(shí)間：1954

影響因子：1.9

是否預(yù)警：否

CiteScore：3.7

國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE ELECTR DEVICE L

中科院分區(qū)：2區(qū)

出版社：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

JCR分區(qū)：Q2

創(chuàng)刊時(shí)間：1980

影響因子：4.1

是否預(yù)警：否

CiteScore：8.2

國(guó)際簡(jiǎn)稱：ARCH CIV MECH ENG

中科院分區(qū)：3區(qū)

出版社：Springer London

JCR分區(qū)：Q1

創(chuàng)刊時(shí)間：2006

影響因子：4.4

是否預(yù)警：否

CiteScore：6.8

國(guó)際簡(jiǎn)稱：SEP PURIF REV

中科院分區(qū)：2區(qū)

出版社：Taylor and Francis Ltd.

JCR分區(qū)：Q1

創(chuàng)刊時(shí)間：2003

影響因子：5.2

是否預(yù)警：否

CiteScore：12.2

國(guó)際簡(jiǎn)稱：INT J SIMUL MODEL

中科院分區(qū)：3區(qū)

出版社：Vienna University of Technology

JCR分區(qū)：Q2

創(chuàng)刊時(shí)間：2002

影響因子：2.6

是否預(yù)警：否

CiteScore：4.8