軟件合成聚焦在超薄層雙側(cè)向測井儀器中的應(yīng)用
關(guān)鍵詞：超薄層雙側(cè)向 軟件聚焦 分辨率 分層能力
摘要：傳統(tǒng)雙側(cè)向采用硬件聚焦方式,電路通過閉環(huán)實現(xiàn)主監(jiān)控控制,無法消除剩余電位的影響,受外圍環(huán)境影響大(溫度變化,電源波動等)。提出一種用于超薄層雙側(cè)向測井儀器的軟件聚焦方法,代替了傳統(tǒng)雙側(cè)向的硬聚焦方式,克服了硬件電路對剩余電位的影響提高了測量精度,通過對電極系尺寸的優(yōu)化設(shè)計和理論計算,超薄層側(cè)向的縱向分辨率能提高至0.2m,適合對薄層等復(fù)雜儲層的測量勘探。對新型超薄層雙側(cè)向測井儀器進(jìn)行了現(xiàn)場測試,結(jié)果表明:對于薄互層,在縱向分層能力上,與微球、高分辨聲波曲線所反映的儲層基本一致。
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