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      高頻光電導衰減法測試硅單晶少子壽命的精密度分析

      張園園; 楊素心 洛陽中硅高科技有限公司; 洛陽471023; 中國有色金屬工業(yè)標準計量質(zhì)量研究所; 北京100080

      關(guān)鍵詞:太陽能級多晶硅 少子壽命 準確性 重復性 再現(xiàn)性 

      摘要:為驗證少子壽命是否可做為太陽能級多晶硅級別判定的技術(shù)指標,將原生多晶硅區(qū)熔為硅單晶后,15家光伏實驗室采用高頻光電導法測試少子壽命。分別對硅單晶的表面和端面進行測試,分析兩者重復性的差異,確定少子壽命取值已表面測試為準。采用Z比分數(shù)法對數(shù)據(jù)進行重復性檢驗、“值檢驗法進行準確性分析、疋。檢驗法進行再現(xiàn)性分析,最終得出少子壽命可作為多晶判級依據(jù)的結(jié)論。

      現(xiàn)代測量與實驗室管理雜志要求:

      {1}論文按下列順序行文:題名、作者姓名、作者單位、中文摘要、關(guān)鍵詞、中國圖書館分類法分類號、正文、參考文獻。

      {2}文稿應(yīng)具科學性、邏輯性、實用性,論點明確,資料可靠,數(shù)據(jù)準確,層次清楚,文字精練,用字規(guī)范。

      {3}一級標題用一、二、三、等編號,二級標題用(一)(二)(三)等編號,三級標題用1.2.3.等編號,四級標題用(1)(2)(3)等編號。

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